晶片表面缺陷测试仪

SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精定向仪，实现了缺陷和定向双功能。
产品特点：
■	缺陷和定向双功能
■	配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩，确保安全使用
■	表格和曲线的形式显示，一目了然
■	速度快，重复性好
■	效率高，数据实时处理
技术参数：
■	测试时间：1-2分钟
■	重复性精0：≤±5″。 
■	测角精0度为±15″
■	小读数1″
典型客户:
中国台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。